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受孔隙尺寸及巖石顆粒微觀分析圖像顯微鏡




來源:yiyi
時(shí)間:2019-8-4 20:06:54


    儲(chǔ)集層巖石的含水飽和度受孔隙尺寸及巖石顆粒表面積的控制。由于
毛細(xì)作用,較小的了L隙含有毛細(xì)管水,然而較大的孔隙則不含有毛細(xì)管水
。由于巖石顆粒的表面面積大,至使親水表面面積大,所以含水飽和度增
高。在砂巖中,通常含水飽和度越大,則顆粒越小,滲透率越低

    觸點(diǎn)的大小及觸點(diǎn)壓力
    觸點(diǎn)的大小與觸點(diǎn)壓力有很緊密的聯(lián)系,所以把它們放在一起討論。
單臂式儀器由于觸點(diǎn)的面積很小,所以總是高壓力觸點(diǎn)�;迨絻x器包括
有從高觸點(diǎn)壓力到低觸點(diǎn)壓力的儀器,但是一般是低觸點(diǎn)壓力。正象與微
測井儀、貼井臂式測井儀及與其他微電阻率儀并測的井徑儀都是低觸點(diǎn)壓
力,設(shè)計(jì)時(shí)使這些儀器的滑板浮在泥餅表面上,所以可用所測井眼尺寸小
于鉆頭尺寸這一顯示表定性地指示滲透性。這種低觸點(diǎn)壓力并不總是能夠
改善電阻率測量。對(duì)于微測井類型的儀器來說,主要測量電阻率。但是當(dāng)
地層與測量儀器之間被泥餅隔開時(shí),微聚焦測井儀器得到的電阻率和實(shí)際
的電阻率相差較大。

    地層傾角測井儀是滑板式的儀器,觸點(diǎn)壓力范圍從低的觸點(diǎn)壓力變到
高的觸點(diǎn)壓力。早期的地層傾角測井儀有低觸點(diǎn)壓力的觸點(diǎn),然而較新式
的地層傾角測井儀有高的觸點(diǎn)壓力,所以新式的地層傾角測井儀將切穿泥
餅。當(dāng)使用非導(dǎo)電泥漿時(shí),根據(jù)報(bào)道,新式地層傾角測井儀可以得到比低
觸點(diǎn)壓力儀器較好的結(jié)果。
    因?yàn)椴荒艽_定滑板式觸點(diǎn)是否總是能切穿泥餅,所以難以把滑板式觸
點(diǎn)定為具有高的觸點(diǎn)壓力。在斯倫貝謝公司的密度測井及超熱中子測井儀
器上用相當(dāng)窄而短的滑板(或更確切地說,滑橇)就是一個(gè)好例子。

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