礦物折射率礦物的糙面分析光學(xué)圖像顯微鏡
糙面 薄片中晶粒的上下部與加拿大樹(shù)膠接觸，試樣的磨平面總
是存在細(xì)微的凹凸不平，當(dāng)光線(xiàn)照射到晶粒與樹(shù)膠的界面時(shí)因折射率
不等將發(fā)生折射，透過(guò)薄片各處的光線(xiàn)集散不一而使晶粒內(nèi)部明暗不
同而顯得粗糙，稱(chēng)為礦物的糙面
糙面的顯著程度決定于晶體與樹(shù)膠的相對(duì)折射率。折射率相差較大
晶粒內(nèi)較為粗糙，反之糙面不明顯。有時(shí)只有光圈縮小才能看到糙面
，當(dāng)二者折射率相近時(shí)就無(wú)糙面顯現(xiàn)。
由于相鄰礦物折射率不等，虛像ccI’點(diǎn)的高低就不同，結(jié)果顯得
相鄰兩晶粒有高有低而構(gòu)成突起和凹陷的現(xiàn)象。突起明顯程度亦決定
于相鄰兩晶體與樹(shù)膠間的折射率差，相差值愈大晶體的突起就愈高，
反之突起就低，折射率相近時(shí)突起就不明顯。晶體折射率可以高于樹(shù)
膠，也可低于樹(shù)膠，為區(qū)分它們將突起分為正負(fù)：折射率高于樹(shù)膠折
射率所顯示的突起，稱(chēng)為正突起；折射率小于樹(shù)膠折射率時(shí)則稱(chēng)為負(fù)
突起。
在多晶材料中較鈍的八角形體晶粒優(yōu)先形成。這時(shí)，正如在各種
氧化燒結(jié)物上被觀察到的那樣，晶界的相界經(jīng)常呈現(xiàn)臺(tái)階狀或復(fù)眼狀
表面結(jié)構(gòu)。
無(wú)機(jī)非金屬材料和金屬材料的晶界有許多共同點(diǎn)：它們都有一定
的界面能，晶界物質(zhì)容易移動(dòng)，晶界滑移使晶界變形，這是晶格無(wú)序
和層錯(cuò)行為的源泉。然而按Kingery理論這兩類(lèi)材料也顯示出典型的差
別：無(wú)機(jī)非金屬的離子結(jié)構(gòu)在晶界上有靜電勢(shì)，它取決于缺陷、雜質(zhì)
和溫度，其量值位于十分之幾伏特的數(shù)量級(jí)：出現(xiàn)的空間電子云可從
晶界向外延伸10nm(在A1203和MgO上的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù))。
非晶體結(jié)構(gòu)
玻璃相是許多無(wú)機(jī)非金屬材料中組成相的主要部分。玻璃態(tài)和晶態(tài)
完全不同，其結(jié)構(gòu)是無(wú)序構(gòu)造和非規(guī)則排列，性能為各向同性，能量
為熱力學(xué)介穩(wěn)態(tài)的較高內(nèi)能和潛在結(jié)晶趨勢(shì)等屬于非晶態(tài)。
